Main Products：
NEC infrared thermal imager, PCB acceleration sensor, high pixel infrared imager, dynamic data acquisition instrument, woodworking laboratory, PCB sensor, wire rope detector, handheld XRF spectrometer, infrared detection service, wire rope nondestructive testing, wire rope flaw detection service, wire rope lubricator, MIKRON blackbody calibration source, IMPAC infrared thermometer.
Product Center
- American Piezoelectric PCB Sensor
- Data acquisition instrument
- stress-strain measurement
- infrared thermal imager
- Handheld XRF Spectrometer
- France CA Electrical Measurement
- Woodworking machinery and equipment
- 高校創(chuàng)意木工坊
- full-day blind ultraviolet imager
- Wire rope detector
- Blackbody calibration source
- Professional Testing Services
- X-ray residual stress tester
- spectrophotometer
-
Opterro光纖測(cè)量系統(tǒng)
DSF high durability strain gauge
Introduce：
Shanghai Pu Chuang Technology Co., Ltd. is mainly committed to the sales of "DSF high durability strain gauge.
Detail：
TML東京測(cè)器 DSF高耐久應(yīng)變片
為疲勞試驗(yàn)而開(kāi)發(fā)的的應(yīng)變片。可以在±3000x10-6應(yīng)變級(jí)下達(dá)到1000萬(wàn)次以上的疲勞壽命。可用于復(fù)合材料的循環(huán)載荷試驗(yàn)。
被測(cè)物材料 | 金屬、復(fù)合材料 |
基片 |
聚酰亞胺 |
|---|---|---|---|
使用溫度范圍 (°C) |
-60 ~ +200°C |
敏感柵 |
特殊合金 |
溫度補(bǔ)償范圍 (°C) |
— |
應(yīng)變極限 （室溫） |
1% (10000×10-6 應(yīng)變) |
主要適用粘合膠 |
CN、EB-2、C-1 |
疲勞壽命 （室溫） |
1×107 （±3000×10-6應(yīng)變） |
* 由于無(wú)溫度自補(bǔ)償功能，建議使用與被測(cè)物相同材料制成的模擬試片，對(duì)該應(yīng)變片的熱輸出進(jìn)行初步測(cè)量
高耐久應(yīng)變片
樣式 |
型號(hào) |
敏感柵長(zhǎng) (mm) |
敏感柵寬 (mm) |
基片長(zhǎng)度 (mm) |
基片寬度 (mm) |
電阻 (Ω) |
靈敏系數(shù) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
 | DSFLA-2-350 | 2 | 2 | 8 | 3.3 | 350 | 約3.5 |
DSFLA-5-350 |
5 |
2 |
11 |
3.2 |
350 | 約3.5 |
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